主營(yíng):三菱粉體阻抗測定系統MCPPD51,GI250 氣體進(jìn)樣器,雅特隆棒狀薄層色譜分析儀,三菱化學(xué)總硫/氯/氮分析儀NSX2100V,三菱硫氮氯NSX2100備件耗材,斯派克X射線(xiàn)熒光光譜儀PreciousMetals,斯派克X2.5 SiO2 粉體成分分析及產(chǎn)品檢測結果 步碳分生成的 SiO2 沉淀用蒸餾水反復洗滌過(guò)濾,在 80℃下干燥后即得到 SiO2 粉體。將 SiO2 粉體在 1000℃下焙燒后,用德國 XEPOSX 熒
xepos型x射線(xiàn)熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析,檢出下限低,靈敏度高、穩定性好,可應對歐洲weee、rohs指令。 技術(shù)原理 由x射線(xiàn)管產(chǎn)生的x射The SPECTRO XEPOS Model of Energy Dispersive Xray Fluorescence (EDXRF) Spectrometer, manufactured by SPECTRO Analytical Instruments , is specifically designed as
硫酸銨為工業(yè)級,實(shí)驗用水為去離子水,其他藥品均為分析純化學(xué)成分分析采用德國XEPOSX熒光分析儀,物相采用D/max–2500PC型X射線(xiàn)衍射儀。 表1黑龍江某電廠(chǎng)粉煤灰化學(xué)組成(%) Si
